4種可測定高溫煅燒氧化鋁原晶粒度的方法

1.電子顯微鏡法

　　以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費(fèi)用高。

2.X射線衍射法

　　主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“礦化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強(qiáng)度與JCPDS卡片不一致，進(jìn)而影響到α氧化鋁定量分析的準(zhǔn)確性。

3.氮吸附小比表面法

　　對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的氧化鋁微粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進(jìn)入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價值。

4.紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法

　　由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度；該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍存在著一定的困難。